会议时间:10月22日 13:30 -- 10月22日 18:00
X射线成像技术能在对检测物体无损伤条件下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况,被广泛的应用于材料学、医学、地质学、食品、工业、农业等领域。
为促进相关人员深入了解X射线成像技术的发展和应用现状,仪器信息网将于2020年10月22日举办“X射线成像技术及应用”主题网络研讨会,依托成熟的网络会议平台,为X射线成像技术相关研究、应用等人员提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台,让大家足不出户便能聆听到精彩报告。
主办单位:仪器信息网
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