会议时间：09月24日 09:00 -- 09月24日 18:00
原子力显微镜 (atomic force microscope, AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。技术历史虽只有30余年，但随着更多纳米科研人员对其不断认知以及相关关联等技术的丰富，AFM应用市场一直在不断拓延。
基于此，仪器信息网（instrument.com.cn）将在2020年9月24日举办“第二届原子力显微镜主题网络研讨会”，邀请原子力显微镜/扫描探针显微镜研究应用专家、相关检测技术专家，以及实验室相关工作人员等，以网络在线报告、在线网友互动交流的形式，针对当下原子力显微镜/扫描探针显微镜研究热点、新技术及难点、相关市场展望等进行探讨，为同行搭建学习互动平台，增进学术交流。
主办单位：仪器信息网
原子力显微镜双模态理论及分子模拟方法
钱建强
北京航空航天大学 教授
导电原子力显微镜在电子器件纳米级电学测试中的应用
惠飞
帕克原子力显微镜特邀专家，以色列理工学院 博士后研究员
四探针扫描隧道显微镜的发展与应用
马瑞松
中国科学院物理研究所 副研究员
基于多探针原子力显微镜的三维微纳加工及原位测量系统研制
李鹏
北京工业大学 讲师
薄膜光电器件中的界面能带结构
陈琪
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 副研究员
二维材料界面结构与性质的先进原子力探针显微学研究
程志海
中国人民大学 教授
原子力显微镜与电子显微镜联用的应用
刘金荣
日立高新技术公司 高级工程师
基于原子力显微镜的原子尺度固体表面/界面物理特性研究
温焕飞
中北大学 副教授
极端条件扫描探针显微开发
毛寒青
中国科学院物理研究所 副主任工程师
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