2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列第五讲-SPM在材料电学性能表征方面的应用进展_其他

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2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列第五讲-SPM在材料电学性能表征方面的应用进展

其他光学仪器及设备

会议时间: 2013-07-09 10:00

主讲老师: 孙昊 |

所在公司: 德国布鲁克纳米表面仪器部

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报告介绍主讲老师

报告介绍

基于扫描探针显微镜的电学表征技术

1. Interleave扫描及抬起模式简介 2. 静电力显微镜，静电力与PFQNM联用

3. 表面电势测量，PFKPFM 4. 导电原子力，PFTUNA及扫描电容显微镜

上世纪九十年代以后，基于SPM的表征材料表面电学性质的技术得到了极大的发展。其主要手段有静电力显微镜，开尔文探针显微镜、导电原子力显微镜、隧穿原子力显微镜以及扫描电容显微镜等等。其应用领域包括纳米材料，纳米器件，生命科学，半导体器件，数据存储等领域。近年来，随着基于峰值力技术研发出一系列新的成像模式，使得纳米材料电学性能表征更定量、更准确。此报告将逐一介绍以上电学测量技术，还将展示电学性质测量与定量力学测量的结合，以及新的频率调制的开尔文探针显微镜。

主讲老师

孙昊

布鲁克

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