微纳米粉体的比表面及孔径分布的测试与分析_电子/电气

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微纳米粉体的比表面及孔径分布的测试与分析

电子/电气物性测试仪器及设备

会议时间: 2013-04-02 14:30

主讲老师: 钟家湘 | 教授

所在公司: 北京精微高博科学技术有限公司

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报告介绍主讲老师

报告介绍

北京精微高博作为中国氮吸附仪的开创者和引领者，多年来一直致力于氮吸附比表面及孔径分析仪的研究与开发，创立了国内自主研发的顶尖品牌。本次讲座重点介绍氮吸附法，比表面，包括Langmuir比表面、BET比表面、外表面，介孔孔径分析包括表面特性的表征、吸脱附等温线、滞后环，微孔常规分析包括T–图、MP、DR法，微孔孔径分布分析，包括HK、FS法、NLDFT法，真密度测试，孔隙率分析等内容。钟家湘教授将会与大家共同分享相关的知识，使广大用户对表界面物性分析仪有更深刻的认识。

主讲老师

钟家湘

北京理工大学材料学院教授

北京理工大学材料学院教授，获得国务院颁发的政府特殊津贴；2004至2017年，担任北京精微高博科学技术有限公司学术带头人，曾研发成功多种系列的氮吸附比表面及孔径分析仪，被誉为中国氮吸附仪的开拓者，2015年获我国第二届科学仪器行业“研发特别贡献奖”

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