通过低加速电压观察/分析新世界_电子/电气

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通过低加速电压观察/分析新世界

电子/电气光学仪器及设备

会议时间: 2019-03-12 14:00

主讲老师: 陈青山 | 应用工程师

所在公司: 捷欧路（北京）科贸有限公司

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报告介绍主讲老师

报告介绍

扫描电子显微镜从发明至今已有70多年的历史。从W-SEM到现在的FE-SEM，在现代的应用越来越追求样品极表面信息的观察和分析。当透射电子显微镜最低加速电压已低至扫描电子显微镜加速电压范围之内的同时，FE-SEM做为性能最高的扫描电子显微镜的代表也在不断追求低加速电压下更高的性能。本讲即为一次配合许多实例讨论利用低加速电压SEM的原因，优势和实现低加速电压下高空间分辨率观察和分析的技术与手段。主要内容有： 1.为什么需要低加速电压SEM 2．实现低加速电压观察原理和技术 3．低加速电压下的分析

主讲老师

陈青山

捷欧路（北京）科贸有限公司应用工程师

日本电子扫描电子显微镜应用工程师陈青山先生。从事扫描电镜售前、售后应用支持工作16年，经验丰富，熟悉掌握各类型扫描电镜的原理及应用。多次赴日参加培训和研讨会，熟悉多个行业对于扫描电镜的应用需求。为用户提供过大量仪器应用解决方案。

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