XPS谱图分析和数据处理_其他

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XPS谱图分析和数据处理

其他化学分析仪器

会议时间: 2018-05-18 14:00

主讲老师: 范燕 | 应用工程师

所在公司: 赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)

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报告介绍主讲老师

报告介绍

XPS作为表面分析的重要手段，不仅被广泛地应用于化学分析、材料开发应用研究、物理理论探讨等学术领域，在机械加工、印刷电路技术、镀膜材料工艺控制、纳米功能材料开发等工业领域，XPS都能提供全方位的解决方案。虽然XPS获得的谱图相对非常直观，然而在进行分峰拟合时会有很多疑虑和困惑，如，如何去除其他元素的干扰峰，怎样优化拟合参数等等。本次网络讲堂主要涉及一下几个方面：

XPS实验技术基础简介

Thermo Avantage软件中图谱的一般处理功能介绍

XPS图谱谱峰拟合方法介绍

复杂XPS图谱谱峰分析实例分享

主讲老师

范燕

赛默飞世尔科技（中国）有限公司应用工程师

赛默飞 XPS 应用工程师硕士毕业于中国石油大学（北京），硕士期间实习于中国计量科学研究院，主要研究课题为典型碳材料的定性与定量分析，并参与利用XPS进行纳米金颗粒有机壳层厚度的计算及X射线光电子能谱（XPS）能量标尺标物（Au、Ag、Cu）的研制等课题。发表文献：《XPS分析过程中X射线照射对PET的影响》。本科及硕士期间曾获得“国家励志奖学金”、“山东省省级优秀毕业生”、“一等奖学金”、“校级优秀学生”等荣誉。

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