X射线分析的应用方向及RoHS检测_电子/电气

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X射线分析的应用方向及RoHS检测

电子/电气化学分析仪器

会议时间: 2022-08-18 14:00

主讲老师: 潘尔超 | 应用技术负责人

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报告介绍

在本次网络课程中，您将了解到日立EA1400型X射线荧光分析仪的诸多解决方案及应用。

其中包括轻元素检测，凹面样品检测，细小异物检测，镀层厚度检测等功能。

在有效提高检测能力的同时，高速自动进样器也提高了检测效率。

其将帮助您在日常工作中，无论是对应RoHS筛选或其它无损化检测需求都能得心应手。

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主讲老师

潘尔超

日立分析仪器（上海）有限公司应用技术负责人

15年相关行业从业经验，活跃于仪器分析与第三方检测行业。

先后任职SGS、SEIKO Nano、日立分析仪器（上海）有限公司。

长期从事X射线荧光检测，XRF镀层测厚分析，等离子发射光谱等应用技术工作。

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主办单位: 日立分析仪器（上海）有限公司

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