峰值力扫描电化学显微镜（PFSECM）_其他

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峰值力扫描电化学显微镜（PFSECM）

其他光学仪器及设备

会议时间: 2017-06-19 10:00

主讲老师: 孙昊博士 | 孙昊 |

所在公司: 德国布鲁克纳米表面仪器部

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报告介绍主讲老师

报告介绍

在去年年底，Bruker发布了峰值力扫描电化学显微镜（PFSECM）。该技术首次将传统的扫描电化学显微镜（SECM）与Bruker专利的峰值力轻敲原子力显微镜（PeakForce Tapping AFM），并突破了纳米电极制造的难题，解决了传统的SECM控制不精确以及分辨率低等难题，实现了在电解质溶液中对表面的形貌、电化学活性、导电性、模量、粘附力、形变量以及能量损失等等诸多物理特性的同时测量。

本次讲座的内容主要包括：

1．介绍PFSECM的基本原理；

2. 介绍PFSECM的硬件软件；

3. 介绍PFSECM的基本应用，包括测量电化学活性以及液下的电学测量。

主讲老师

孙昊博士

1982年出生。2010年毕业于北京大学化学与分子工程学院无机化学专业，获得理学博士学位。博士期间主要从事基于原子力显微镜（AFM）的无机纳米材料的制备和表征研究。毕业后进入Veeco公司工作，后于2010年随公司并购加入Bruker公司。2010年10月至2012年5月任售后技术支持工程师，主要从事AFM相关软硬件技术支持以及应用支持；2012年5月至2016年9月任中国客户服务中心主管及售后服务主管，主要负责客户服务中心的运营以及处理售后事宜，在任期间构建了电话咨询、本地检测和维修以及培训等

孙昊

布鲁克

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