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AFM的力学测量技术

其他光学仪器及设备

会议时间: 2017-05-19 10:00

主讲老师: 陈孝敏博士 |

所在公司: 德国布鲁克纳米表面仪器部

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报告介绍主讲老师

报告介绍

原子力显微镜（AFM）能够在纳米尺度上实现探针与样品间作用力的精确控制，同时通过结合其他电磁学测量技术如TUNA和KPFM等，极大地开拓了AFM力学测量技术的应用前景。在材料力学与电磁学表征、细胞病例分析、表面修饰、纳米压痕等得到广泛的关注。本次讲座我们将重点介绍采用Bruker AFM最新的力学测量技术以及应用。

本次讲座的内容主要包括：

1．介绍AFM纳米力学测量的基本原理

2. 介绍Bruker AFM中的各类力学新技术及其应用。

主讲老师

陈孝敏博士

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1988年出生，2016年毕业于南京理工大学材料物理专业，获得理学博士学位。博士期间主要从事铁电、压电材料的研究。在美国马里兰大学访问两年，从事自组装电荷输运有机体的研究。毕业后进入Bruker公司工作，主要从事AFM相关的软硬件技术支持以及售后应用支持。现任Bruker纳米表面仪器部客户服务中心售后应用科学家。

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