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SEM在失效分析中的应用

会议时间: 2015-08-28 09:30

主讲老师:

所在公司: 上海欧波同仪器有限公司

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报告介绍主讲老师

报告介绍

1977年毕业于南开大学物理系光学专业。
1970年入伍，2004年转业。
1979年-2004年，空军某研究所高级工程师，主要承担航空装备失效分析工作。获各种军队科技进步奖11项，发表论文40余篇。中国机械工程学会聘任失效分析专家。
2004年-2015年，蔡司电子显微镜产品销售、应用、维修及技术服务。
特长：失效分析，电镜应用及技术服务。

扫描电子显微镜在失效分析中的应用

概要：

贵公司在产品检测、质量控制方面力不从心吗？

您成天被一些事故故障弄得焦头乱额吗？

您经常被一些产品质量问题搞得坐立不安吗？

您在忧心公司的分析能力不尽人意吗？

欧波同为您提供全面的解决方案，为您提供超值全面的技术服务！

失效分析技术为您解决产品失效的分析方法，确定失效模式，查找失效原因，避免同类事件发生。

失效分析手段是解决产品质量问题的保证，扫描电镜是失效分析最权威的设备。

传播失效分析技术，普及电镜应用，提高分析能力，保证产品质量是此报告的初衷。

参会用户均有机会获得：旅行水壶（5个）；蓝牙自拍杆（5个）；皮质笔记本（10个）！

主讲老师