布鲁克纳米表面量测部

个人简介:2011年毕业于北京大学化学与分子工程学院，获得学士学位；2017年毕业于加利福利亚大学戴维斯分校化学学院，获得理学博士学位。博士期间主要从事基于原子力显微镜(AFM)的纳米刻蚀研究。毕业后加入Bruker公司，任高级应用及系统工程师，现任纳米表面仪器部售后应用科学家、高级培训师。具有长达9年的AFM应用经验。 查看更多