智能制造核心芯片测试系统

仪器名称：

智能制造核心芯片测试系统

英文名称：

ETS-88 TEST SYSTEM

所属分类：

电子测量仪器 > 大规模集成电路测试仪器 > 其他

学科领域：

电子与通信技术

主要技术指标：

8个±100 V/12 A SmartPin单元，SmartPin架构在传统的四象限V/I内集成了AWG和数字转换器。72个±30 V VI源，每个源都包含独立低端连接，ADC和AWG，以提供真正的单板多站点功能并允许模拟和数字事件的一致同步。 4个独立的精密浮地差分电压测量仪(12位10个Msps或16位200 ksps)，它们可支持AC和DC的测量值高达+/-200 V

主要功能：

用来测试多种器件，包括：简单的模拟、高精度、高电压、高电流和功率、汽车、视频、音频、复杂混合信号等器件，以及像SiC（碳化硅）和GaN（氮化镓）这类新器件的电源处理器件。系统为单工位、多工位和异步串行多工位（index parallel）测试应用进行了优化以提高吞吐量和降低测试成本。测试系统硬件经过设计来为每个工位提供独立的浮动资源，以避免工位之间的资源共享，同时提高工位与工位之间的隔离和测量的准确性。