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当前位置： 广州领拓 > 解决方案 > 晶圆绑定线的失效检测-离子研磨

晶圆绑定线的失效检测-离子研磨

2024/05/29 11:38

阅读：24

分享：
应用领域：
半导体
发布时间：
2024/05/29
检测样品：
其他
检测项目：
晶圆检测
浏览次数：
24次
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参考标准：
/

方案摘要：

晶圆绑定线的失效是非常常见的一种失效，针对此种失效可以先对失效点进行定位，然后选择离子束切割加电镜观察的方式进行切片分析。

产品配置单：

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¥80万 - 100万

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方案详情：

晶圆绑定线的失效是非常常见的一种失效，针对此种失效可以先对失效点进行定位，然后选择离子束切割加电镜观察的方式进行切片分析。

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