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Nano-SIMS块状样品前处理流程
2024/10/08 16:58
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方案摘要：
产品配置单：
标乐 EcoMet30 单/双盘手动自动磨抛机
型号： EcoMet30
产地： 美国
品牌： 标乐
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徕卡全自动三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X
型号： Leica EM TIC 3X
产地： 德国
品牌： 徕卡
¥120万 - 200万
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方案详情：
Nano-SIMS，即纳米离子探针技术，是具备较高的质量分辨、灵敏度和分析精度的微区分析技术，能够在纳米级尺度上提供元素和同位素的定量信息。这项技术被广泛应用于地球科学、材料科学、生物科学和环境科学等多个领域。
为了获得准确、可靠的高质量分析数据，纳米离子探针对样品有严格要求：
1) 样品应尽可能平整，块状样品应进行精细抛光；
2) 样品的尺寸需符合Nano-SIMS分析舱的要求，通常可使用的样品座可容纳不同尺寸的样品，如10mm（推荐）、12.7mm、25.4mm等，厚度应控制在4mm以内；
3) 样品应具有良好的导电性，对于导电性不强的样品，应镀上一层薄薄的导电层（如Au、C、Pd等）以去除多余的电荷；
4) 样品不应含有任何挥发性物质，以确保在高真空条件下进行分析。
本文就直径约10mm以内不规则的岩石样品，提供了Nano-SIMS前处理的流程，以供参考。
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