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核心参数
规格： 个
货号： 709-1
符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。
Pelcotec CDMS-XY ISO标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线，可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。
Pelcotec CDMS-XY ISO蚀刻线标样使用蚀刻技术制成，具有卓越的线缘质量，可提供广泛的测量范围。
该标样有两种特征尺寸范围可选，分别是 Pelcotec CDMS-XY-1T ISO和 Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO，每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样，总共有四种：
Pelcotec CDMS-XY-1T ISO：特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。
| 产品编号 | 描述 | 单位 |
|---|---|---|
| 709-1 | Pelcotec CDMS-XY-1T ISO，2mm - 1um，可追溯，没有样品座，蚀刻线 | 个 |
| 701-1 | Pelcotec CDMS-XY-1T ，2mm - 1um，可追溯，没有样品座，蚀刻线 | 个 |
Pelcotec CDMS-XY-1C ISO：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。
| 产品编号 | 描述 | 单位 |
|---|---|---|
| 713-1 | Pelcotec CDMS-XY-1C ISO，2mm - 1um，已认证，没有样品座，蚀刻线 | 个 |
| 705-1 | Pelcotec CDMS-XY-1C ，2mm - 1um，已认证，没有样品座，蚀刻线 | 个 |
Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO：特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。
| 产品编号 | 描述 | 单位 |
|---|---|---|
| 710-1 | Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO，2mm - 100nm，可溯源，没有样品座，蚀刻线 | 个 |
| 702-1 | Pelcotec CDMS-XY-0.1T ，2mm - 100nm，可溯源，没有样品座，蚀刻线 | 个 |
Pelcotec CDMS-XY-0.1C ISO：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。
| 产品编号 | 描述 | 单位 |
|---|---|---|
| 714-01 | Pelcotec CDMS-XY-0.1C ISO，2mm - 100nm，已认证，没有样品座，蚀刻线 | 个 |
| 706-01 | Pelcotec CDMS-XY-0.1C ，2mm - 100nm，已认证，没有样品座，蚀刻线 | 个 |
该标样的特征尺寸范围见下表：
Pelcotec CDMS-XY-1T ISO 和 -1C ISO 的特征尺寸为：
2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50um、10um、5um、2um 和 1um。
Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸为：
2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50um、10um、5um、2um 和 1um、500nm、250nm 和 100nm。
可选的预先安装在样品座上。
| Pelcotec CDMS-XY-1-ISO | Pelcotec CDMS-XY-0.1-ISO | |
| 基底：硅 | 是 | 是 |
| 基底尺寸：2.5×2.5mm | 是 | 是 |
| 基底厚度：525±10μm | 是 | 是 |
| 唯一序列识别号 | 是 | 是 |
| 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块 | 是 | 是 |
| 垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线，间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm | 是 | 是 |
| 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出 | — | 是 |
| 可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准） | T 版本 | T 版本 |
| CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准） | C版本 | C版本 |
| 不装在样品台上可用 | 是 | 是 |
| 可安装在 SEM样品台上 | 是 | 是 |
| 精度优于0.3% | 是 | 是 |
| 线边缘粗糙度为每 1um 线边缘长度 +/- 0.3nm | 是 | 是 |
| 测量报告的不确定性 (k=2)* 为 ±0.012μm | 是 | 是 |
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