2022-09-14 13:32
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Bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL
型号: Dektak XTL
产地:
品牌: 布鲁克
¥ 70万 - 100万
参考报价
德国布鲁克Bruker 探针式表面轮廓仪台阶仪 DektakXT 纳米级表面测量
型号: Dektak XT
产地:
品牌: 布鲁克
¥ 40万 - 50万
参考报价
Dektak XT台阶仪-表面轮廓仪
型号: Dektak -XT 10th
产地:
品牌: 布鲁克
面议
参考报价
Bruker探针式轮廓仪系统Dektak XTL台阶仪
型号: DektakXTL
产地:
品牌: 布鲁克
面议
参考报价
台阶仪/表面轮廓仪
型号: DEKTAK
产地:
品牌: 布鲁克
¥ 45万
参考报价
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Dektak XT 是使用single-arch 设计的探针轮廓仪, single-arch 设计及智能电子器件,大大改善了设备稳定性,进一步提高防震性能。Dektak XT在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现,台阶高度重复性可低于4A。
研究营养的吸收、植物处理效果和有毒金属污染,还有其它研究如提高农作物品质、营养及产量,都需要能够测量轻元素并能进行精细的光谱分析的X射线荧光分析仪。元素分析的成本效益高且实用性强,Tracer X射线荧光光谱仪系统是完全便携式的,可以用来在野外和实验室对轻元素和重元素进行研究。每个样品的分析成本相比外部实验室服务的成本大大减少,而且等待结果的时间不长。Tracer提供百分百的无损分析,不管进行多少次试验,样品都不会有任何变化。Tracer可以让用户设计独特的方法和校准Calibration,来用于研究,并适应于日常的Point-and-shoot点测。布鲁克有非常专业的XRF技术专家,非常清楚其在表面成分分析和体积测量之间细微区别,他们可以提供帮助服务。