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常规超声探伤仪

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2 篇解决方案

电子半导体器件中无损检测方案(X射线成像)

检测样品: 集成电路
检测项: 机械性能
参考标准:
公司名称: 聚擘国际贸易(上海)有限公司

利用水浸超声C扫描系统检测高纯铝靶材

检测样品:
检测项: 理化分析
参考标准:
公司名称: 安赛斯(中国)有限公司