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探针台

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4 篇解决方案

射频芯片晶圆中CP测试检测方案(探针台)

检测样品: 电子元器件产品
检测项: CP测试
参考标准:
公司名称: 深圳市易捷测试技术有限公司

DUT中CV测试前校准检测方案(半导体检测仪)

检测样品: 其他
检测项: CV测试前校准
参考标准:
公司名称: 深圳市易捷测试技术有限公司

电子器件中抗辐照水平检测方案(探针台)

检测样品: 电子元器件产品
检测项: 抗辐照水平
参考标准:
公司名称: 深圳市易捷测试技术有限公司

探针台|手动8英寸高温探针台

检测仪器 TS200/TS300/TS200L

MEMS晶圆级全自动动态4D原位测量技术-MPI+英铂探针台解决方案

检测样品: 其他
检测项:
参考标准:
公司名称: 英铂科学仪器(上海)有限公司