看了null的用户又看了
HELMUT FISCHER制造用于镀层层厚测量和材料分析的X射线荧光系统已有超过17年的经验，FISCHERSCOPE® X-Ray系列能量色散X射线荧光光谱仪遵循ASTMB 568、DIN 60 987和ISO3497等国家和国际标准。
FISCHERSCOPE® X-Ray系列产品使用带珀耳帖冷却的高光谱分辨率的半导体探测器和用于材料和多镀层分析的WinFTM® V6软件，能保证在没有标样校准的情况下以一定的测量精度表征复杂的镀层系统，同时对包含多达24种元素的材料进行分析。
如果与应用工具箱Gold Assay组合在一起，能应用于珠宝盒贵金属领域快速、污损和精确地测量金的含量。
