布鲁克 三维表面测量系统NPFLEX

产品简介：布鲁克NPFLEX 三维表面测量系统--针对大样品设计的非接触测试分析系统

详情页介绍:

布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力，实现更快的测量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供的技术性能超出了传统的的接触式坐标测量仪（CMM）和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验，NPFLEXTM是第一个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统，而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。

• 灵活测量大尺寸、特殊角度的样品

• 高效的三维表面信息测量

• 垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节

• 快速获取测量数据，测试过程迅速高效

测量不同尺寸、规格的样品，操作灵活，精确高效

通常情况下，测量比较大的样品或者特殊形状、特定表面的样品时，往往花费较长的时间对样品进行切割处理，才可进行测量。如今，开发出新型的NPFLEX测量系统，拥有超大测量空间，最高可测13英寸，这种创新性的空间设计，可以测量更大尺寸、更复杂形状的样品。开放式龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位。开放式结构与Bruker的专利头部调节 tip/tilt测量头，包含理想的数值孔径及实现了更长的工作距离下测量。这使得NPFLEX善于测量深沟，高纵横比的孔洞，或表面高低起伏比较大的样品。

卓越品质，坚固耐用

NPELEX整体设计坚固耐用，大理石机台可以承受最重高达170磅的重量。开放式龙门设计可以灵活性测量表征更大的面型和更难测的角度。客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松的转换测量方向，表征样品的不同位置。在实验过程中，使用NPFLEX，对于样品大小，取样过程以及实验环境的要求，都相对宽松很多，使得实验可以灵活简便的完成，帮助生产者获得产品性质的精密数据。

NPFLEX在基本配置的基础上，还有很多备选的配件和配置方案，满足不同客户的测量需求：

• 可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位，测量样品的侧壁、倾斜表面以及斜面边缘，重复性好。

• 获得研发大奖的透过透明介质测量模块(Through Transmissive Media，TTM)模块,，结合环境测试腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可对样品进行加热或者冷却，进行原位测量。

• 可选的折叠镜头能够测量碗状样品的侧壁和底部孔洞。

纳米级分辨率的三维表面信息测量

NPFLEX测试系统采用白光干涉原理，在每一个测量点可以实现表面形貌的三维信息收集，且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针曲率半径的局限，高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果，更多的测量数据来帮助分析样品性质。

快速获取数据，保证测试迅速高效

NPFLEX三维测量系统，能够灵活高效的获取大量测试数 据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间，操作者可以快速更换样品，而且无需全面掌握样品形状和表面形貌的前提下，对样品的不同表面进行测量。仅需要不到15秒的时间，就可以出色地完成一个测量点的数据采集和分析工作。

自动对焦，光强调节以及其他配套软件功能，大大节约了测试分析时间，而且可以根据操作者的实验需求，量身定做最优化的实验方案，而不影响数据的精度和质量。利用NPFLEX可以高效、快捷、灵活、准确地获得大型零部件的高精度测量结果，提供一站式的测量解决方案。

应用领域举例：

• 研发领域--在研发实验室，要求仪器的测量操作过程和数据分析过程都要灵活高效精确，基于白光干涉原理设计出来的这台NPFLEX 非接触三维光学轮廓仪，就可以在这种要求下完成对样品不同尺寸和形状表面进行表征，其测试性能远远优于探针式或者其他类型的轮廓仪。

• 生产过程和产品质量监控--机密加工行业需要高效精确的测量仪器，检测所生产的部件质量和性能是合乎出场要求的。与同类检测手段相比较，NPFLEX可以提供更高效精确的产品表面性质测量，严格控制产品指标。

• 失效分析--NPFlex卓越的测量性能，加之纳米级的超高分辨率，帮助操作人员高效灵活地完成样品表面非接触式三维形貌测量，样品安全无损，多重数据分析，获得全面准确的样品信息。结合具体的测量参数，分析样品形貌图像，就可以迅速获得零件的全部失效分析报告。