为何要采用快速温变湿热试验箱HT-TED-408PF做半导体的实验

为何要采用快速温变湿热试验箱HT-TED-408PF做半导体的实验

在当今高速发展的科技时代，半导体作为电子信息产业的核心基石，其性能和可靠性至关重要。随着半导体技术的不断进步，对其在各种复杂环境下的稳定性和耐久性提出了更高的要求。而快速温变湿热试验箱 HT-TED-408PF 为半导体的实验研究提供了关键的测试平台。

技术参数：

温度范围：通常为 - 70℃～+150℃（特殊要求可达 - 100℃～150℃液氮）。

快温变范围：一般为 - 55℃～80℃。

快温变速率：5℃/ 分（线性或非线性变化）。

湿度范围：20%～98% R.H（10%～98% R.H、5%～98% R.H 为特殊选用条件）。

温 / 湿稳定度：±0.5℃，±2%。

温 / 湿均匀度：±1℃，±2%。

温、湿度偏差：≤±2℃/±3%R.H。

传感器：一般为 A 级铂金电阻（PT100）。

为何要采用快速温变湿热试验箱HT-TED-408PF做半导体的实验

快速温变原理：通过精确的温度控制系统和高效的制冷、加热系统协同工作，按照设定的温变速率和温度变化范围，快速、准确地调节试验箱内的温度。例如，设定在短时间内从高温快速降至低温，温度控制系统会根据设定值，及时控制制冷系统加大制冷量，同时调节加热系统停止工作或降低功率，使试验箱内温度迅速下降；反之，当需要从低温快速升至高温时，控制系统则控制加热系统加大功率，制冷系统停止工作或降低功率，实现温度的快速上升

为何要采用快速温变湿热试验箱HT-TED-408PF做半导体的实验

温度控制系统：

集成 PID 控制算法与智能温控芯片，实时监测并调整加热与制冷元件输出功率，实现对目标温度精确控制 。

用户可通过触控界面或远程控制系统，轻松设置温度曲线、升降速率及保温时间等参数，满足不同测试场景需求 。

具备故障自诊断与报警功能，检测到异常情况（如超温、电源故障等），立即启动保护措施并发出警报，确保测试过程安全可靠 。

制冷系统：

通常采用复叠式制冷技术或变频压缩机制冷技术，通过多级制冷循环，实现低温快速下降与稳定维持 。

制冷系统中关键部件（如压缩机、冷凝器、蒸发器及节流装置等）均选用国际品牌产品，保证系统可靠性与高效性 。

配备高效热交换器与制冷介质循环系统，提高制冷效率并降低能耗 。

具备智能除霜系统，应对苛刻低温环境下的结霜问题，确保测试过程不受影响 。

为何要采用快速温变湿热试验箱HT-TED-408PF做半导体的实验

其他特点与配置：

设备特点：新优化设计，省空间，狭小实验室也能放置；大视窗观察窗口，产品试验可视化更强；蓄水量大试验时间长，抽屉式结构设计方便清洗；多重安全保护措施，确保样品及设备安全；操作简单，易维护。

显示与操作：采用 10.4 英寸大型彩色触摸屏计测装置，根据画面显示，通过触摸画面即可轻松进行设定操作，试验规格、试验区温度、温度循环、趋势图显示等一目了然，可记录 90 天的参数功能（相当于配备无纸记录仪）。

安全保护：压缩机过流、超压、油压保护，无熔丝过载保护，加热、加湿干烧保护，箱内超温保护，水箱缺水警报系统等。

标准配置：观视窗（三层真空钢化玻璃），测试孔（￠50x1 只），试料架（2 组），超温保护器，视窗观测灯，保险 1 个。