看了电子探针X射线微区分析仪(EPMA)的用户又看了
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高灵敏度 · 高精度 · 高分辨率 「简单•易懂的操作」
从软件到硬件凝结的技术,铸就了新一代EPMA。岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度·高精度·高分辨率的基础上,又新增了简单·易懂的操作性能,将电子探针功能发挥较好。既可满足初学者简易操作的需求,又能适合专家级的科研分析。
设计的X射线分光器可以实现高灵敏度·高精度分析,X射线取出角决定分析性能,52.5°高取出角更胜一筹
图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁(Fe)、右下图为钛(Ti)的元素分布。
因EPMA-1720具有高取出角,对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。
从SEM观察到开始分析,简便易行,大幅度提高工作效率。
同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像
在同一个显示器上观察光学图像和SEM图像。
通过高灵敏度的CCD可以观察很暗的样品
SEM图像和光学图像在同一显示器上,减少视线的移动
只需单击一下即可开始SEM图像观察
只需点击【SEM AUTO】图标,就可以根据事先设定的条件进行SEM图像的观察
束流变换更加简单·快速·高精度,且保持聚焦
只需选定束流目标值即可快速、高精度地自动设定束流
通过联动控制,束流大小改变后也能保持图像聚焦状态
产品货期: 60天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
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