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扩散薄膜方阻分析模组(JPV结光电压法)
产品描述
主要利用结光电压技术非接触测试具有P/N或N/P结构的样品的方阻(发射极薄层方阻)。
特点
非接触,非损伤测试,测试速度快,重复性佳,可直接测试产品片。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 3人次培训
免费仪器保养: 6个月1次
保内维修承诺: 免费维修
报修承诺: 4小时相应
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型号:Trace1300 E