产地类别： 进口
看了白光干涉测厚仪的用户又看了
监控薄膜沉积，最强有力的工具
F30 光谱反射率系统能实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数 (n 和 k 值) 和半导体以及电介质层的均匀性。
分子束外延和金属有机化学气相沉积: 可以测量平滑和半透明的，或轻度吸收的薄膜。 这实际上包括从氮化镓铝到镓铟磷砷的任何半导体材料。
极大地提高生产力
低成本 —几个月就能收回成本
A精确 — 测量精度高于 ±1%
快速 — 几秒钟完成测量
非侵入式 — 完全在沉积室以外进行测试
易于使用 — 直观的 Windows™ 软件
几分钟就能准备好的系统
| 型号 | 厚度范围* | 波长范围 |
|---|---|---|
| F30 | 15nm-70µm | 380-1050nm |
| F30-EXR | 15nm - 250µm | 380-1700nm |
| F30-NIR | 100nm - 250µm | 950-1700nm |
| F30-UV | 3nm-40µm | 190-1100nm |
| F30-UVX | 3nm - 250µm | 190-1700nm |
| F30-XT | 0.2µm - 450µm | 1440-1690nm |
产品货期: 30天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
安装调试时间: 到货后7天内
电话支持响应时间: 24小时内
是否提供维保合同: 是
维修响应时间: 2天内
KLA白光干涉测厚F30的工作原理介绍
白光干涉测厚F30的使用方法?
KLAF30多少钱一台?
白光干涉测厚F30可以检测什么？
白光干涉测厚F30使用的注意事项？
KLAF30的说明书有吗？
KLA白光干涉测厚F30的操作规程有吗？
KLA白光干涉测厚F30报价含票含运吗？
KLAF30有现货吗？
