XNano-3D-JEOLS 单倾光学样品杆纳控XNano原位样品杆

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品牌

纳控

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型号

XNano-3D-JEOLS XOptical

荣誉奖项

产地

中国大陆

杭州纳控科技有限公司

银牌
第1年
生产商

营业执照已审核

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核心参数

仪器分类： 原位压缩

产地类别： 国产

应用领域： 材料

行程： X/Y/Z轴行程 2 mm

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产品介绍售后服务承诺用户评论问商家

光纤外径: 250 μm （芯径可选）
光纤探针: 平头光纤等
光纤接口: FC、SMA等
X/Y/Z轴行程: 2 mm
X轴粗调精度: 10 nm
X轴细调精度: 0.1nm
Y/Z轴粗调精度: 0.1μm
Y/Z轴细调精度: 0.2nm
α旋转角度范围: 360°
α旋转角度精度: 0.1°
样品漂移率: ＜2 nm/min
是否可定制化开发: 可根据需求定制化开发

纳控科技深耕精密运动控制技术、超低温冷冻技术，致力于为科学研究、创新研发及高端仪器、设备的制造等提供系统的技术解决方案与集成。

XNano原位透射电子显微镜样品杆通过原创性设计，将原位加载观测动态微结构演化与三维重构有机结合，实现了透射电子显微镜应用从二维、三维到四维的突破。

系统采用自主研发特殊精密微型压电马达驱动，实现了XYZ轴三维运动与绕样品杆α方向360°旋转，以及β方向±10°倾转五个自由度的完全解耦，大幅提升纳米操纵性能及可控性。

系统配备力学、电学等多种扩展平台，配合增强的纳米操纵性能，结合动态原位实验可在线进行三维重构，实现透射电镜样品四维表征（4DTEM）。

公司提供以下原位TEM系列产品(单/双倾)以及相关定制化服务：

JEOL/FEI 力学样品杆
JEOL/FEI 电学样品杆
JEOL/FEI 光电样品杆
JEOL/FEI 三维重构样品杆

参数如下：

XNano原位透射电镜纳米操纵系统可广泛应用于材料科学、生物、医学、化学、物理学等多个领域，并可根据您的需求进行定制化生产。

无论是产品选型、使用指导还是售后服务，我们都将尽心尽力为您提供最优质的服务。

精微所至，洞见未来。纳控科技竭诚为广大科研工作者提供更好的产品和服务，与您一起在科研道路上前行。

欢迎广大客户沟通、交流，部分产品支持定制。

售后服务承诺

产品货期: 120天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

安装调试时间: 到货后0天内

电话支持响应时间: 2小时内

是否提供维保合同: 是

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