XNano-3D-FEIS 单倾电学样品杆 纳控XNano原位样品杆
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纳控

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XNano-3D-FEIS XElectrics

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中国大陆

  • 银牌
  • 第1年
  • 生产商
  • 营业执照已审核
核心参数

仪器分类: 原位加电

产地类别: 国产

应用领域: 材料

行程: X/Y/Z轴行程 2 mm

  • 电流最大达到: 500 mA
  • 电流分辨率: 10 fA(取决于源表)
  • 电压输出范围: ±10 V(取决于源表)
  • X/Y/Z轴行程: 2 mm
  • X轴粗调精度: 10 nm
  • X轴细调精度: 0.1nm
  • Y/Z轴粗调精度: 0.1μm
  • Y/Z轴细调精度: 0.2nm
  • α旋转角度范围: 360°
  • α旋转角度精度: 0.1°
  • 样品漂移率: <2 nm/min
  • 是否可定制化开发: 可根据需求定制化开发
纳控科技深耕精密运动控制技术、超低温冷冻技术,致力于为科学研究、创新研发及高端仪器、设备的制造等提供系统的技术解决方案与集成。


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XNano原位透射电子显微镜样品杆通过原创性设计,将原位加载观测动态微结构演化与三维重构有机结合,实现了透射电子显微镜应用从二维、三维到四维的突破。

系统采用自主研发特殊精密微型压电马达驱动,实现了XYZ轴三维运动与绕样品杆α方向360°旋转,以及β方向±10°倾转五个自由度的完全解耦,大幅提升纳米操纵性能及可控性。

系统配备力学、电学等多种扩展平台,配合增强的纳米操纵性能,结合动态原位实验可在线进行三维重构,实现透射电镜样品四维表征(4DTEM)。

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公司提供以下原位TEM系列产品(单/双倾)以及相关定制化服务:


  • JEOL/FEI 力学样品杆
  • JEOL/FEI 电学样品杆
  • JEOL/FEI 光电样品杆
  • JEOL/FEI 三维重构样品杆



参数如下:


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XNano原位透射电镜纳米操纵系统可广泛应用于材料科学、生物、医学、化学、物理学等多个领域,并可根据您的需求进行定制化生产

无论是产品选型使用指导还是售后服务,我们都将尽心尽力为您提供最优质的服务。

精微所至,洞见未来。纳控科技竭诚为广大科研工作者提供更好的产品和服务,与您一起在科研道路上前行。

欢迎广大客户沟通、交流,部分产品支持定制。




售后服务承诺

产品货期: 120天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

安装调试时间: 到货后0天内

电话支持响应时间: 2小时内

是否提供维保合同:

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