ASTMD150介电常数测试仪

ASTMD150介电常数测试仪本标准修改采用IEC 60250： 1969«测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电 容率和介质损耗因数的推荐方法》（英文版）。

本标准根据IEC 60250:1969重新起草。在附录B中列出了本标准章条编号与IEC 60250:1969章 条编号的对照一览表。

考虑到我国国情，在采用IEC 60250:1969时，本标准做了一些修改。有关技术性差异已编入正文 中并在它们所涉及的条款的页边空白处用垂直单线标识。

为便于使用，本标准做了下列编辑性修改：

a） 删除国际标准的目次和前言,

b） 用小数点'、代替作为小数点的逗号

c） 弓|用的 IEC 60247 , ^Measurement of relative permittivity» dielectric dissipation factor and d. c. resistivity of insulating liquids”即“液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻 率的测量''代替uRecommended Test cells for Measuring the Resistivity of Insulating Liquids and Methods of cleaning the cells”即“测量绝缘液体电阻率的试验池及清洗试验池的推荐 方法七

d） 用V代替

e） 增加了“术语七

f） 增加公式中符号说明；

g） 图按 GB/T 1. 1-2000 标注。

本标准与GB/T 1409 -1988的相比，主要变化如下：

1） 增加“规范性引用文件”（本标准第2章）；

2） 增加“电介质用途”（本标准41）；

3） 删去导电橡皮；

4） 增加“石墨”（本标准5. 1.3）；

5） 增加“液体绝缘材料”（本标准5. 2）o

本标准代替GB/T 1409-1988（（固体绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波长在内）下相对介电常 数和介质损耗因数的试验方法》。

本标准的附录A、附录B为资料性附录。

本标准由中国电器工业协会提出。

本标准由全国绝缘材料标准化技术委员会归口。

本标准起草单位：桂林电器科学研究所。

本标准主要起草人：王先锋、谷晓丽。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为：

一-GB/T 1409- 1978；

GB/T 1409—1988 o

测量电气绝缘材料在工频、音频、咼频
（包括米波波长在内）

下电容率和介质损耗因数的推荐方法

ASTMD150介电常数测试仪

3.12.7 θ(DEG)：-179.999º — 179.999º

3.12.8 θ(RAD)：-3.14159 — 3.14159

3.12.9 Δ%：-999.999% — 999.999%

3.13 等效电路：串联, 并联

3.14 量程方式：自动, 保持

3.15 触发方式：内部, 手动, 外部, 总线

3.16 平均次数：1－256

3.17 校准功能：开路, 短路全频、点频校准， 负载校准

3.18 数学运算：直读, ΔABS, Δ%

3.19 延时时间设定：0 -- 999, 最小分辨率100us

3.20 比较器功能

a）10档分选，BIN1～BIN9、NG、AUX

b）档计数功能

c）PASS、FAIL前面板LED显示

3.21 列表扫描

a）10点列表扫描

b）可对频率、AC电压/电流、内/外DC偏置电压/电流进行扫描测试

c）每扫描点可单独分选

3.22 内部非易失性存储器：100组LCRZ仪器设定文件，201次测试结果

3.23 外部USB存储器

a）GIF图像

b）LCRZ仪器设定文件

c）测试数据USB存储器直接存储

3.24 接口

3.24.1 I/O接口：HANDLER，从仪器后面板输出

3.24.2 串行通讯接口：USB、RS232C

3.24.3 并行通讯接口：GPIB接口（选件）

3.24.4 网络接口：LAN

3.24.5 存储器接口：USB HOST（前面板）

3.24.6 偏置电流源控制接口DCI

a）使用DCI接口可控制外部直流偏流源，偏置电流最大可达120A。

b）选件，DCI与GPIB 只能2者选1

3.25 通用技术参数

3.25.1 工作温度, 湿度：0℃－40℃, ≤ 90%RH

3.25.2 电源电压：220V±20%，50Hz±2Hz

3.25.3 功耗最大80VA

3.25.4 体积(W×H×D)： 280 mm × 88 mm × 370 mm(无护套)，369 mm × 108 mm × 408 mm(带护套)。

3.25.5 重量：约5kg

 ASTMD150介电常数测试仪

本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、 湿度，在特殊情况下也与电场强度有关.

有时在超过1 000 V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予 论述。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款，凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标^准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准，

IEC 60247：1978液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量

3术语和定义

下列术语和定义适用于本标准。

3. 1

相对电容率 relative permittivity

电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电 容G之比：

式中：

相对电容率：

充有绝缘材料时电容器的电极电容；

真空中电容器的电极电容。

在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率％等于L 000 53o因此，用这种电极构 形在空气中的电容G来代替G测量相对电容率％时，也有足够的精确度。

在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率％与真空电气常数気 的乘积。

在SI制中，绝对电容率用法/米（F/m）表示°而且.在SI单位中，电气常数s为：

= 8.854 X 10 忐 XR） （2）

在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为：

ASTMD150介电常数测试仪

介质损耗因数° dielectric dissipation factor

tand

损耗角8的正切。

3.4

[介质]损耗指数 [dielectric] loss index

ft

该材料的损耗因数槌紡与相对电容率的乘积。

3.5

复相对电容率 complex relative permittivity

ASTMD150介电常数测试仪在测定电容率需要较高精度时，最大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚 度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。 对1%的精确度来讲，1. 5 mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，最好是采用较厚的试样，例如 6 mm〜12 mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在± 1 %内。 如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样 电容。测量10 pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1 pF,因此 试样应薄些，直径为10 cm或更大些。

需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引入的损耗要尽可能地小，即被测电容和该 电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。第一点表示导线电阻要尽可 能低及试样电容要小，第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大，因此试样电 容最好取值为20 pF,在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5 pF0电极系统