Phenom Pharos STEM 台式场发射 SEM-STEM 电子显微镜,配备了 STEM 样品杯,从另一个维度提高了其成像能力和 应用的多样性。 Pharos STEM 电子显微镜,利用 FEG 高亮度电子源,可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜(TEM)载网,实现样品的快速、安全切换。STEM 样品杯可提供明场 (BF) 、暗场 (DF) 和高角度环形暗场 (HAADF) 像,并支持自定义选择成像模式。
看了扫描透射电子显微镜的用户又看了
Phenom Pharos 台式场发射扫描电镜因其多功能性和卓越的成像性能赢得了良好的口碑 —— 即使是在传统较难观测的样品中也表现优异。直观的用户界面有助于将高分辨率图像呈现给用户, FEG 场发射电子源在 1-20kV 的加速电压范围内都提供了高分辨率。
Phenom Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜,配备了 STEM 样品杯,从另一个维度提高了其成像能力和应用的多样性。
作为全球唯一台式 Phenom Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜,在较低的加速电压下,减少了电子束对样品的损伤,显著提高了图像的衬度。在台式扫描电镜下即可快速获得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像,且支持用户自定义成像。Pharos STEM 样品杯为材料领域的研究提供了高效、全面的表征方式。
BF 像:主要是样品正下方同轴的探测器接收透射电子和部分散射电子。影响明场像衬度(Contrast)的主要因素是样品的厚度和成分。样品越厚,原子序数(Z)越大,穿透样品的电子越少,图像就越暗,因此 BF 像对轻元素(Z 较小)比较敏感。
DF 像:主要是样品下方非同轴位置的探测器接收散射电子信号。
HAADF 像:主要是接收高角度的非相干散射电子信号。原子序数(Z)越大,散射角也越大,原子核对入射电子的散射作用越强,图像上更亮。因此又被称为 Z 衬度像。
三种成像模式各有特点,具有不同的成像优势,可以根据样品情况搭配使用,成像结果进行互相验证。
烟草花叶病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像
对比扫描电镜的背散射电子图像(BSE),杆状的烟草花叶病毒在 BF 模式下更加直观。BF 模式更适合观察轻元素(Z 较小),轻元素散射作用较弱,因此在 HAADF 模式下较难清晰观测细节。
而杆状烟草花叶病毒周围较厚的脂质球,电子较难穿透,BF 像上相对较暗。在 DF 模式下,密度较大的脂质球表现出较强的衍射,因此在 DF 像上相对较亮。
规格参数:
系统兼容:Phenom Pharos G2 台式场发射扫描电镜
样品兼容:ø 3mm TEM 载网(夹具固定)
成像时间:< 40 s*
成像模式:BF、DF、HAADF、 自定义**
成像工作流程:固定的 WD,设置最优的探测器 ,完全集成的 UI
真空度:0.1, 10 & 60 Pa
分辨率:优于 1 nm
* 加载样品到呈现图像的时间
** STEM 具有 11 分割探测器,用户可以对其进行自定义选择
具体详情以Phenom Pharos-STEM 扫描透射电子显微镜产品资料为准
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 1年2个名额
免费仪器保养: 无
保内维修承诺: 质保期内,除自然灾害和人为因素损坏外,全部免费维修
报修承诺: 货物出现故障后,供货方8小时给出初步反馈。
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PhenomPharos-STEM多少钱一台?
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