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高空低气压试验箱DR-H208B
产品型号 | DR-H208A | DR-H208B | DR-H208C | DR-H208D |
测试区尺寸 | 40*40*40 | 60*60*60 | 80*80*80 | 100*100*100 |
外型尺寸 | 100*140*75 | 120*150*95 | 140*165*115 | 160*185*135 |
性能 | 温度范围 | (+85℃)+150℃~-70℃(A:0℃;B:-20℃;C:-40℃;D:-60℃;E:-70℃) | ||
压力范围 | 1*10Pa~常压 | |||
压力偏差 | ≤±2Kpa(≥40 Kpa时);≤±5%(2~40 Kpa时);≤1*10Pa(≤2Kpa时); | |||
温度波动度 | ≤±0.5℃ | |||
温度均匀度 | ≤2.0℃ | |||
温度偏差 | ≤±2.0℃ | |||
升温时间 | 平均0.5~3℃/min | |||
降温时间 | 平均0.5~3℃/min | |||
材质 | 外部材质 | SECC钢板+粉底烤漆 | ||
内部材质 | SUS 304#不锈钢板 | |||
隔热材质 | PU及隔热棉 | |||
温度调节系统 | 压缩机 | 法国泰康/德国谷轮 | ||
制冷剂 | R134a/R404a/R23 | |||
蒸发器 | 鳍片式 | |||
加热器 | 不锈钢电加热器 | |||
制冷方式 | 机械压缩单机制冷/一元/二元复叠制冷(风冷或水冷) | |||
显示精度 | 0.1℃/0.01℃ | |||
运行方式 | 程序方式,定值方式 | |||
控制方式 | 微积分运算PID | |||
传感器 | PT100 | |||
观察窗 | 多层中空电镀膜加热玻璃 | |||
其它配件 | 隔层架(两个或依客户指定),脚轮4个 | |||
安全装置 | 超温保护;漏电保护;压缩机超压,过载,过电流保护;风机过载保护;相序保护等 | |||
电源 | 220/380(1±10%)V,(50±0.5)HZ | |||
选配件 | 温度记录仪,可记录温度讯问 | |||
备注 | 另可依客户要求尺寸制作 | |||
可定制步入型低气压实验室 | ||||
可选配湿度环境 | ||||
P为可程式,S为标准型 | ||||
A,B,C,D,E代表温度范围(A:0℃;B:-20℃;C:-40℃;D:-60℃;E:-70℃) |
高空低气压试验箱DR-H208B 箱体结构:
■外承压式箱体结构,箱体采用数控机床加工成型,造型美观大方。
■箱体内部采用SUS304#不锈钢板,外部采用SECC钢板,并静电喷塑处理,以增加外观质感及洁净度。
■箱体保温层采用高强度聚氨酯(PU)发泡与高密度玻璃纤维棉,可避免不必要的能量损失。
■大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式多层中空钢化玻璃,在试验过程可防凝露,随时保持观测视窗的清晰度,便于观测箱内试验样品之状况。
■测试区内使用可调式不锈钢隔层架,隔层架间距高度可调,便于样品的摆放。
■机器底部采用高品质可固定式活动脚轮,以便固定及移动之用。
高空低气压试验箱DR-H208B设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 10586 -2006 湿热试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Db:交变湿热(12h + 12h循环)
GB/T 2423.22-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验N:温度变化
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压(高度)试验
GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.6-1986 军用装备实验室环境试验方法 温度-高度试验
安装湿度模块后,还可满足以下标准:
GJB 150.19-1986 温度-湿度-高度试验
GJB 150.24A-2009军用装备实验室环境试验方法 第24部分:温度-湿度-振动-高度试验
GB/T 2423.27-2005电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Z/AMD 低温/低气压/湿热连续综合试验
产品货期: 30天
整机质保期: 2年
培训服务: 安装调试现场免费培训
安装调试时间: 到货后3天内
电话支持响应时间: 2小时内
是否提供维保合同: 是
维修响应时间: 2天内
节假日是否提供上门服务: 是
核心零部件货期: 7天
是否支持上门巡检: 是
是否提供免费应用支持: 否
是否提供付费应用支持: 否
是否提供线上售后平台: 是
维修付款方式: 先维修后付款
无理由退换货: 不支持
德瑞检测 高低温老化试验箱DR-H201-408A
型号:DR-H201-408A 面议德瑞检测 换气式老化箱DR-H306
型号:DR-H306 面议德瑞检测阳光模拟试验箱DR-DH301G
型号:DR-DH301G 面议德瑞检测 高低温拉力测试机DR-HL201A
型号:DR-HL201A 面议1 范围 本文件描述了低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)的低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验。 4试验条件 本文件将大气温度设为(23±3)℃。 表1~表6规定的温度和气候条件,按GB/T12085.2中规定的条件试验方法10、11和12。在选择试验箱尺寸和试样安装时,应保证试验箱(室)内所有试样的温度均匀。 对于条件试验方法45、46、50和51,需要在低压箱(室)中进行空气循环。低压箱(室)本身,既可以作为一个温热箱(室),也可以安装在一个温热箱(室)里。 对于条件试验方法47至49,需要一个气候试验箱(室)。采用三种不同的试验方法,对光学和光子学仪器的耐湿热和耐内压综合性能进行试验。允许试样上有露水。每个试验步骤应逐个连续进行,不准许试验中断。 除条件试验方法47之外,如产生冷凝,应保护试样不受冷凝水下落影响。除条件试验方法48之外,还需要低压容器。除条件试验方法49之外,按GB/T12085.8规定,试样还应有一个连接器,用于排气和压力测量。
1 范围 本文件描述了光学和光子学高内压、低内压、浸没的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)的高内压、低内压、浸没试验。 4试验条件 光学和光子学仪器的耐压试验采用下述三种方法: ——条件试验方法80:高内压; ——条件试验方法81:低内压; —条件试验方法82:浸没。 条件试验方法80的环境条件为清洁的干燥空气或氮气,相对湿度小于30%。 条件试验方法82用于在使用期间可能遭到浸没的仪器。浸没试验应使用软水并在敞开的水箱里或水压室中进行,浸没的深度根据试样的最高部位决定,水温应在10℃~25 ℃之间,暴露期间试样的温度不应低于水温,但也不应超过水温10 K。
1范围 本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力,而这种失效是由于气压减小时,空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1000 V的器件。 本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。 本项低气压试验方法和IC 60068-2-13大体上一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,使用本部分条款。2规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T4937的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。 IEC 60068-2-13 环境试验 第2部分:试验M:低气压 3试验设备 本试验所需仪器设备包括一台真空泵、一个合适的密封室(必要时,该密封室还应具备能观察样品的装置)、一台可用于测量密封室模拟高度的气压表和一只能在直流到30 MHz内检测电流的微安表或示波器。
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