产地类别: 进口
DECTRIS ARINA®可伸缩电子计数探测器是专门为4D STEM应用开发的。它采用了一个全新的专有集成电路设计(ASIC),结合高达每秒12万帧的理想速度、高动态范围和无噪音的读出能力,从而使高质量的数据采集达到传统STEM探测的原生速度。得益于DECTRIS的混合像素技术,ARINA可以采用不同的传感器材料,并能在30-300 KeV的整个能量范围内都有理想表现。它拥有结构紧凑的设计和一个20 mm乘20 mm或192像素乘192像素的有效区域。 DECTRIS ARINA 适合于停留时间低于10 μs的广泛 4D STEM应用,包括从晶相 和取向分布分析到层叠成像技术,以及使用虚拟探测器进行灵活的 STEM 图像重建。
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DECTRIS ARINA®可伸缩电子计数探测器是专门为4D STEM应用开发的。它采用了一个全新的专有集成电路设计(ASIC),结合高达每秒12万帧的理想速度、高动态范围和无噪音的读出能力,从而使高质量的数据采集达到传统STEM探测的原生速度。得益于DECTRIS的混合像素技术,ARINA可以采用不同的传感器材料,并能在30-300 KeV的整个能量范围内都有理想表现。它拥有结构紧凑的设计和一个20 mm乘20 mm或192像素乘192像素的有效区域。 DECTRIS ARINA 适合于停留时间低于10 μs的广泛 4D STEM应用,包括从晶相 和取向分布分析到层叠成像技术,以及使用虚拟探测器进行灵活的 STEM 图像重建。
技术规格
帧频(max) | 120,000 Hz |
计数率(max) | 10^⁸ el/s/pixel |
像素数 | 192 x 192 |
像素大小 | 100 x 100 µm² |
传感器材料 | 硅 (Si) 或CdZnTe |
能量范围 | 30 - 300 keV |
探测器安装 | 可伸缩 |
产品应用
使用DECTRIS ARINA探测器在200keV获得 的4D STEM实验结果。
左上: 虚拟明场STEM图像。
中间: 用差分相位对比法(DPC)进行局部电场的可视化。
右下: 综合质心(iCoM)重建展示了Sm和B 原子的局部原子电位。
叠加:SmB6沿<110>轴的原子结构,Sm为红 色球体,B为绿色球体。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 免费现场培训
免费仪器保养: 一年两次
保内维修承诺: 保修期内人工与配件全包
报修承诺: 24小时电话技术支持,如需上门3个工作日内到达用户现场
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