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应用方向：X射线谱分析、 X射线成像、电子探测、空间物理研究
主要技术参数：
有效探测面积：5mm2/10mm2/20mm2/30mm2/60mm2/100mm2/200mm2/300mm2
能量分辨率：122~132eV@Mn_K；36~68eV@C_K
峰背比：7000~15000
窗口类型：无窗、超薄窗、薄窗、铍窗，多种窗口类型可选
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 电话培训，无限次
免费仪器保养: 无
保内维修承诺: 质保期内免费
报修承诺: 24小时内
