FT型热像仪核心及IR FPA测试系统

红外焦平面阵列是热成像系统**重要的核心部件。探测器电路（核心）的设计是热成像系统的关键部分。因为红外焦平面阵列的参数决定了热像仪系统的性能极限，红外焦平面技术或热像仪技术方面的专业人员必须**地了解红外焦平面阵列参数方面的知识。因此，测量红外焦平面阵列性能的测量设备是研发红外热成像系统的关键。

FT是一个完备的测试系统，它产生**控制时空分布的红外，辐射到红外焦平面的输入平面来控制被测红外焦平面；被测红外焦平面阵列（或热像仪核心）进行表征所需的输出信号进行半自动分析。

该系统能够测量热像仪核心和红外焦平面阵列的所有重要参数（噪声/灵敏度、成像质量和光谱参数）。可测试不同光谱波段（LWIR或MWIR）、冷却或非冷却的探测器。FT系统可以在一系列版本中提供，并针对不同测试范围的热成像核心和红外焦平面阵列进行优化，还可以选择能够测试完整的热像仪的超扩展版本。

FT测量系统一个模块化的系统，可以方便快速地配置成三个半独立的测量工作站：FT-N，FT-I，和FT-S。

1.FT-N——噪声和响应参数的测量；

2.FT-I——成像质量参数的测量

3.FT-S——光谱参数测量。

产品参数

红外焦平面阵列的参数可分为三大类：

噪声/灵敏度参数：

1.标准噪声特性：NETD（高频时间噪声）、FPN（高频空间噪声）、不均匀性（低频空间噪声），

2.响应参数：SiTF，线性，动态范围，饱和水平，

3.高级噪声参数：3D噪声模型、NPSD、1/f噪声、坏像素数和坏像素定位，

4.D*（归一化探测率）和相关参数可选（需要知道FPA的积分时间）。

图像质量参数：

1.调制传递函数MTF，

2.能量损耗（PVF），

3.串扰。

光谱参数：

1.       相对光谱灵敏度（平均值、偏差、信号相关性）

FT测试系统可以以不同版本、不同测试能力和不同价格水平交付。

可使用下表所示的代码**确定版本。

示例代码：

代码FT40–测量红外焦平面传感器/摄像机芯的噪声/响应和成像参数的系统。不能测试完整的热像仪。

代码FT52-测量红外焦平面传感器/摄像机核心的噪声/响应、成像和光谱参数的系统。能够测试完整的热像仪。