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红外焦平面阵列是热成像系统**重要的核心部件。探测器电路(核心)的设计是热成像系统的关键部分。因为红外焦平面阵列的参数决定了热像仪系统的性能极限,红外焦平面技术或热像仪技术方面的专业人员必须**地了解红外焦平面阵列参数方面的知识。因此,测量红外焦平面阵列性能的测量设备是研发红外热成像系统的关键。
FT是一个完备的测试系统,它产生**控制时空分布的红外,辐射到红外焦平面的输入平面来控制被测红外焦平面;被测红外焦平面阵列(或热像仪核心)进行表征所需的输出信号进行半自动分析。
该系统能够测量热像仪核心和红外焦平面阵列的所有重要参数(噪声/灵敏度、成像质量和光谱参数)。可测试不同光谱波段(LWIR或MWIR)、冷却或非冷却的探测器。FT系统可以在一系列版本中提供,并针对不同测试范围的热成像核心和红外焦平面阵列进行优化,还可以选择能够测试完整的热像仪的超扩展版本。
FT测量系统一个模块化的系统,可以方便快速地配置成三个半独立的测量工作站:FT-N,FT-I,和FT-S。
1.FT-N——噪声和响应参数的测量;
2.FT-I——成像质量参数的测量
3.FT-S——光谱参数测量。
红外焦平面阵列的参数可分为三大类:
噪声/灵敏度参数:
1.标准噪声特性:NETD(高频时间噪声)、FPN(高频空间噪声)、不均匀性(低频空间噪声),
2.响应参数:SiTF,线性,动态范围,饱和水平,
3.高级噪声参数:3D噪声模型、NPSD、1/f噪声、坏像素数和坏像素定位,
4.D*(归一化探测率)和相关参数可选(需要知道FPA的积分时间)。
图像质量参数:
1.调制传递函数MTF,
2.能量损耗(PVF),
3.串扰。
光谱参数:
1. 相对光谱灵敏度(平均值、偏差、信号相关性)
FT测试系统可以以不同版本、不同测试能力和不同价格水平交付。
可使用下表所示的代码**确定版本。
A | B | |
编号 | 测试能力 | 测试完整的热像仪 |
1 | 噪声/相应参数 | 否 |
2 | 成像参数 | 是 |
3 | 光谱参数 | |
4 | 噪声相应和成像参数 | |
5 | 所有参数 |
示例代码:
代码FT40–测量红外焦平面传感器/摄像机芯的噪声/响应和成像参数的系统。不能测试完整的热像仪。
代码FT52-测量红外焦平面传感器/摄像机核心的噪声/响应、成像和光谱参数的系统。能够测试完整的热像仪。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 按照合同履行
免费仪器保养: 无
保内维修承诺: 免费维修
报修承诺: 8小时内响应
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