全材料介电阻抗测试系统 宽频高低温介电阻抗谱分析仪
全材料介电阻抗测试系统 宽频高低温介电阻抗谱分析仪

¥50万

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MIA

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亚洲

核心参数
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材料阻抗测试设备MIA简介

 

[系统简介]

 

材料的基础物性研究是产品产业化的根基,当一种材料需要产业化的时候,我们必须尽可能大范围地,高精度地掌握它的大部分特性,以免因为错误的数据而影响了后期产业化的方向,造成不必要的损失。

 

MIA系列是东阳特克尼卡株式会社与ZURICH联合开发,面向各种介电材料的交流阻抗评测系统。该系统搭配了独有的OSL补偿系统,实现了高达0.2%的测量误差精度。

 

[系统图片]

 

材料阻抗测试系统01.jpg

 

[测试项目,关键词]

 

介电材料,交流阻抗,电容测量,配位化合物,离子导电材料,调色剂,有机半导体

 

[系统特征]

 

       可对应最大1T?的样品

-          适用于介电材料,配位化合物,离子导电材料,调色剂,有机半导体等

       高精度

-          基础测量精度0.2%

-          带有OSL校正

       专用软件

-          HIMS全自动控制测量软件

-          Z-View等阻抗分析软件

       各种专业配件

-          适用于各种不同材料形态尺寸样品的夹具选配件

-          适用于各种气体氛围,环境和温度的选配件

 

[系统规格]

 

样品接触方式

2端接触

频率范围

1mHz 5MHz

基本测量精度

0.20%

阻抗测量范围

100Ω ~ 1TΩ

电容测量范围

1pF 1mF

介电损耗(tanδ)测量范围

0.0001 1000

施加电压(AC + DC Vpp

-10V +10V

校正功能

OSL

控制软件

附带HIMS软件,PC控制

 

[选配件]

 

       电压放大功能

-          最高DC:±4kVAC800Vpp,带特殊保护装置。

       样品夹具/温度控制

型号

TTPX

LN-Z2

恒温箱+SH2-Z

HT-22-1000

UHT-22-1200

名称

低温探针台

广域温度控制台

耐热样品台

桌面型烘箱

超高温烘箱

温度控制范围

4.2K 425K

80K ~ 473K

-60℃ ~ +150

100℃ ~ 1,000

100℃ ~ 1,200

※根据型号冷媒不同

样品接触方式

探针

上下夹扣

上下电极

上下夹扣

上下夹扣

氛围气体控制

真空,气体置换

真空,气体置换

规格不同不同对应

流气量控制

流气量控制

 

[测试图例]

 

材料阻抗测试系统02.jpg


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 1

免费仪器保养: 1年2次

保内维修承诺: 按国家规定

报修承诺: 按国家规定

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