ST8000-MAP 薄膜测厚仪(涂层)
ST8000-MAP 薄膜测厚仪(涂层)

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科美仪器

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ST8000-MAP

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亚洲

  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数
仪器简介:
·最小的光斑测量亚微型样品 
·多个点同时测量 
·半音测试4种掩饰方法

技术参数:
活动范围 :370mm x 470 mm~

测量范围 :100Å~ 2.5㎛ at Sub-micron size

光斑尺寸 :~ 0.2㎛ x 0.2㎛

测量速度 :14sec./Area

应用领域 :半色调测量并具有ST6000/7000的所有功能



主要特点:
1.具有ST6000的所有功能

2.精确图案测量

3.自动调焦

4.电荷耦合器件照相机

5.模式识别

6.通讯接口模块传达方式
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