ST5000 薄膜测厚仪(涂层)
ST5000 薄膜测厚仪(涂层)

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ST5000

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亚洲

  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数
仪器简介:
韩国K-MAC (株) 公司和附属韩国物理性质分析研究所主要开发生产具有高科技含 
的理化学分析仪器和应用仪器。仪器的适用范围有半导体,医疗,环境及工程监控等。 
公司还通过表面和构造分析服务,提供半导体等精密部件的研究开发所需的必要数据。

技术参数:
1、尺寸 1100 x 1250 x 1550 mm
2、重量 400kg
3、类型 自动的
4、测量方法 无连接的
5、测量原理 反射计
6、活动范围 ~300mm x 300mm
7、测量范围 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
8、光斑尺寸 40㎛/20㎛,4㎛(option)
9、测量速度 1~2 sec./site(fitting time)


主要特点:
测量迅速,操作简单

非接触式,非破坏方式

优秀的重复性和再现性

2D/3D 映射和造型

自动机械活动控制

电荷耦合器件照相机

自动调焦
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