CCD光谱响应测量系统	半导体光谱响应测量系统
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日本分光计器

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VC series-1

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亚洲

  • 金牌
  • 第12年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

CCD光谱响应测量系统,半导体光谱响应测量系统


    该系统可以测量光谱响应特性光电转换装置、光强控制机制和特殊的光学系统,使该系统能够在恒定的光强下,在样品表面连续照射均匀度高的单色光。


规格:

目标样品:CMOS传感器板/数码相机机身

波长范围:300 - 1300 nm

光源:氙灯/卤素灯

有效照射面积:10×10mm(可选40×40mm)

辐照强度:恒定能量10 - 50μW /cm2



售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 免费培训

免费仪器保养: 一年一次

保内维修承诺: 一年保修

报修承诺: 一周内上门维修

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日本分光计器光学平台VC series-1的工作原理介绍

光学平台VC series-1的使用方法?

日本分光计器VC series-1多少钱一台?

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