光刻胶检测系统 光刻胶测试系统
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日本分光计器

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IUV-25CP-1

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亚洲

  • 金牌
  • 第12年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

光刻胶检测系统,光刻胶测试系统


用于检测光刻胶的光谱灵敏度(波长特性)。

这是一种光谱系统,它将连续的光(大约240纳米宽)照射到一种光敏材料上,例如光阻剂。标准配置两种光源。一种是能照射强线谱光的深紫外光灯,另一种是能照射连续谱光的氙灯。


规格

波长范围:波长波段一次照射约240nm

辐照有:高度方向:89mm(5-13步)

波长方向80mm(约240nm)

辐照时间:0.01-1200s

辐照步骤:1-13步


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 免费培训

免费仪器保养: 一年一次

保内维修承诺: 一年保修

报修承诺: 一周内上门维修

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