— 薄膜材料的热导率评价将变得为简便
日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。
纳米薄膜热导率测试系统特点：
1. 在纳米尺度衡量薄膜的热导率
开发出的监测周期加热过程中热反射带来的金属薄膜表面温度变化的方法，通过厚度方向上的一维热导模型计算出样品表面的温度变化，为简便的衡量厚度方向上热导率。（日本：5426115）
2. 样品制备简单
不需要光刻技术即可将金属薄膜（1.7mm×15mm×100nm）沉积在薄膜样品上。
纳米薄膜热导率测试系统应用：
1. 热设计用薄膜热导率评价的优先选择。
low-k薄膜，有机薄膜，热电材料薄膜
2. 可用于评价热电转换薄膜
纳米薄膜热导率测试系统测量原理：
当使用频率为f的电流周期加热金属薄膜时，热流的频率将为电流频率的2倍（2f）。如果样品由金属薄膜（0）-样品薄膜（1）-基体（s）组成（如图），可由一维热导模型计算出金属薄膜上表面的温度变化T(0)。
假设热量全部传导到基体，则T(0)可由下式计算：
（λ/Wm-1K-1，C/JK-1m-3，q/Wm-3，d/m，ω（=2πf）/s-1）
式中实部（同相振幅）包含样品薄膜的信息。如热量全部传导到基体，则同相振幅正比于(2 ω)0.5，薄膜的热导率（λ1）可由下式给出：
（m：斜率，n：截距）
纳米薄膜热导率测试系统参数：
1. 测试温度：室温
2. 样品尺寸：长10～20mm，宽10mm
厚0.3～1mm（含基体）
3. 基体材料：Si（推荐）
Ge，Al2O3（高热导率）
4. 样品制备：样品薄膜上需沉积金属薄膜（100nm）
（推荐：金）
5. 薄膜热导率测量范围：0.1～10W/mK
6. 测试氛围：大气
设备概念图
样品准备
Si基底上的SiO2薄膜（20-100nm）测量结果
d1 / nm | 19.9 | 51.0 | 96.8 |
λ1/ W m-1 K-1 | 0.82 | 1.03 | 1.20 |
发表文章
1. K. Mitarai et al. / J. Appl. Phys. 128, 015102 (2020)
2. M. Yoshiizumi et al. / Trans. Mat. Res. Soc. Japan 38[4] 555-559 (2013)
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 初次安装培训
免费仪器保养: QD中国工程师会依据使用情况定期回访用户、给予维护建议，保障设备良好运转。
保内维修承诺: 免费维修或更换零件；本地储备货值超过50万美元的备件，迅速响应故障诊断和维修。
报修承诺: QD中国承担中国区本地售后服务工作，专业、迅速解决用户在仪器使用过程中的问题。
激光闪光法热常数测量系统
型号：TC-1200RH 100万 - 150万
完全无液氦综合物性测量系统 PPMS DynaCool
型号：PPMS DynaCool 面议
热电转换效率测量系统
型号：PEM-2 面议
小型热电转换效率测量系统
型号：Mini-PEM 面议日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。
ADVANCE RIKO其它热分析仪TCN-2ω的工作原理介绍
其它热分析仪TCN-2ω的使用方法?
ADVANCE RIKOTCN-2ω多少钱一台?
其它热分析仪TCN-2ω可以检测什么？
其它热分析仪TCN-2ω使用的注意事项？
ADVANCE RIKOTCN-2ω的说明书有吗？
ADVANCE RIKO其它热分析仪TCN-2ω的操作规程有吗？
ADVANCE RIKO其它热分析仪TCN-2ω报价含票含运吗？
ADVANCE RIKOTCN-2ω有现货吗？
