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ADVANCE RIKO
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ZEM-d
亚洲
聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d
日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台，广获全球科研及工业用户的赞誉，成为热电材料领域应用广泛的测试设备。2019年，在此前的成功基础上，ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。
与之前ZEM系列产品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。
ZEM-d测量原理
现存测试方法 |
ZEM-d（厚度方向测量） |
电阻率测量原理
塞贝克系数测量原理
ZEM-d技术参数
测量参数 塞贝克系数，电阻率
温度范围 高200℃（样品表面）
样品尺寸 截面：Φ20mm（Max），长度：0.01-20mm
测量氛围 空气或惰性气体
软件界面
测试数据
铜合金的塞贝克系数测量结果
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 初次安装培训
免费仪器保养: QD中国工程师会依据使用情况定期回访用户、给予维护建议，保障设备良好运转。
保内维修承诺: 免费维修或更换零件；本地储备货值超过50万美元的备件，迅速响应故障诊断和维修。
报修承诺: QD中国承担中国区本地售后服务工作，专业、迅速解决用户在仪器使用过程中的问题。
塞贝克系数/电阻测量系统-ZEM
型号：ZEM-3 面议
电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜
型号：PSM II 100万 - 150万
热电转换效率测量系统
型号：PEM-2 面议
小型热电转换效率测量系统
型号：Mini-PEM 面议ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。
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