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瑞士TESA MICRO-HITE测高仪
瑞士TESA测高仪拥有杰出的设计，专注测量平面、平行或圆柱表面的内部、外部、高度、深度、阶梯和距离等任何几何特征尺寸。
自动搜索孔或轴的顶点，在动态探测中记录较大、较小值以及较大较小值之间的差值计算。
TESA IG-13数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差，并以ISO1101标准输出数据。-在电子测高仪上20年的制造经验造就了高品质的设计，代表了当今的技术水平的发展。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 10人次技术培训
免费仪器保养: 保修期内 3月1次
保内维修承诺: 非人为损坏，免费更换零件
报修承诺: 48小时到达现场
