产品详情
日本JEOL X射线荧光光谱仪JSX-1000S
JSX-1000S型X射线荧光光谱仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（FP法?检量线法）、RoHS元素筛选功能等。 利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更广泛的分析。
| 检测元素范围 | Mg～U |
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| F～U（选配） |
| X射线发生装置 | 5～50 kV , 1mA |
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| 靶材 | Rh |
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| 一次滤波器 最多9种 自动交换 | 标准：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd |
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| 选配：Cl, Cu, Mo, Sb |
| 准直器3种 自动交换 | 0.9mm, 2mm, 9mm |
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| 检测器 | 硅漂移检测器（SDD） |
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| 样品室尺寸 | 300mmφ×80mmH |
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| 样品室气氛 | 大气 / 真空(选配） |
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| 样品室观察机构 | 彩色摄像机 |
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| 操作用电脑 | Windows ® 触控屏 台式电脑 |
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| 分析软件（标准） | 定性分析（自动定性、KLM标记、和峰显示、谱图检索）
定量分析（块状FP法、检量线法）
RoHS分析解决方案（Cd, Pb,Cr, Br, Hg)
简易分析解决方案
报告制作软件 |
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| 分析软件（选配） | 薄膜FP法分析软件
关联滤波器FP法分析软件 |
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| 日常检查软件（标准） | 管球升压、能量校正、强度校正 |
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主要附件
样品室真空排气单元
多样品自动交换单元
滤波器组
滤膜FP 法分析软件
薄膜FP 法分析软件
和峰消除软件
镍镀层筛选解决方案
锡镀层筛选解决方案
氯元素筛选解决方案
产品特点：
· JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行SIM观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。通过与SEM像比较，SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异，这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。
· 高性能FIB镜筒
· JIB-4000采用高性能的FIB镜筒，最大离子束流高达 60 nA，能进行快速研磨。大电流下的快速加工尤其适合于大面积的研磨，制备100 μｍ以上用来观察的截面非常轻松。
· 用户友好的FIB装置
· JIB-4000高性能的 FIB镜筒具有出色的可操作性。用户友好的外观和GUI设计，建立了使用方便的FIB系统。即使不是FIB专家也能够轻松操作，此外，该装置小巧紧凑为业界最小体积，安装地点的选择范围很大。
· 双样品台
· JIB-4000标配的块状样品马达驱动样品台可供块状样品使用，此外还可以增配侧插式测角台（TEM用Tip-on 样品架可以直接插入）。块状样品马达驱动样品台能观察整个表面为20 mm x 20 mm的块状样品，样品交换可以通过气锁式系统快速进行。侧插式测角台与JEOL的TEM系统使用的相同，因此Tip-on （尖端上可以安装附件的）样品架与JEOL的TEM系统可以通用，这样，FIB加工和TEM观察的反复交替就能很容易地进行。
· 丰富的附件
· 有各种附件可用来支持JIB-4000的操作。包括对电路修改应用特别有效的CAD导航系统，对特殊形状加工有效的矢量扫描系统等。通过给JIB-4000安装适当的附件，该系统可以支持样品制备以外的应用。
