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X射线单晶衍射仪
X-ray Single Crystal Diffractometer System
1.用途及特点:
测定新化合物(晶态)分子的准确三维空间(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度)及分子在晶格中的实际排列状况;可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。
精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度,分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构;可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构,提供全面的结构数据,并可按不同要求提供各种结构图、动态图。
2. 系统总体构成:
高性能混合像素光子直读探测器;
kappa 四圆测角仪;
X 射线金属陶瓷管(Mo 或 Cu);
X 射线发生器;
单毛细管光学器件;
晶体样品液氮低温系统;
晶体样品监视系统;
X 光管的循环冷却水装置;
计算机控制系统;
系统控制和数据收集及数据分析软件。
3. 主要技术参数:
3.1 X 射线发生器和光路系统:
3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W;
3.1.2 最大管电压/通道:60 KV;
3.1.3 最大管电流/通道:50 ma;
3.1.4 电流电压稳定度: 8 小时内变化不超过± 0.1%;
3.1.5 X 射线管保护:过电压、过电流、冷却水异常保护;
3.2 测角仪:
3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪,步进马达定位,四个角度均可自由转动,满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要;
3.2.2 角度分辨率:Omega 和 Theta 0.0001 度,Kappa 0.001 度,Phi 0.001 度;
3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒;
3.2.4 theta 臂具有通用性,与公司所提供的其他探测器兼容;
3.3. 晶体对中监视系统:CCD 摄像头加放大镜头,安装在仪器内部用于样品对心与调整;
3.4 探测器:DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器;
3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集;
3.6 系统控制和数据处理软件:包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序,以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行;
3.7 液氮低温系统:温度范围 120 - 400 K,控温精度:± 0.1 K。
保修期: 2年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 免费培训一次,限定5人内
免费仪器保养: 6个月一次
保内维修承诺: 2年免费维修,终生维护
报修承诺: 24小时赶到现场
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