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Bruker原子力显微镜-Dimension FastScan
扫描探针显微镜（Scanning probe microscopes，SPMs）是用于测量样品表面/界面性质的一类高分辨的探针型显微镜，根据其成像原理和操作模式的差异，主要分为原子力显微镜（atomic force microscopes，AFMs）和扫描隧道显微镜（scanning tunneling microscopes，STMs）等。SPM仪器的探针由压电陶瓷驱动，在物体表面作精确的扫描。探针距离样品表面的距离控制在一定的范围内，进行扫描工作，最终以纳米级分辨率获得样品表面的结构信息。传统的分析仪器，往往通过间接或计算的方法来推算样品的表面结构，但是SPM可以实时的获得样品表面真实的结构特征。因此SPM技术的出现，帮助人们首次获得了原子在平整表面排布的高分辨的真实图像。除此之外，AFM在常温常压大气下以及在液体环境下均可成像，实验操作中无需对样品进行任何特殊处理，就可以在微米级到埃米级的扫描范围内完成高精度表面测量，并且提供真正的三维形貌图。
