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一种紧凑，低成本，基于微处理器的薄膜厚度监视器，可与琼脂系列涂层单元配合使用。
薄膜厚度监视器
一种紧凑，低成本，基于微处理器的薄膜厚度监视器，可与琼脂系列涂层单元配合使用。
这是一款紧凑型，低成本，基于微处理器的薄膜厚度监测仪，适用于琼脂系列涂层装置。*初设计用于电子显微镜应用，它也适用于复杂的沉积系统。双存储器存储两种沉积材料的参数。该系统使用安装在晶体支架中的6MHz石英晶体振荡器。控制单元具有数字读数，显示直接以纳米为单位的涂层厚度，分辨率为0.1nm。还可以输入加工因子以补偿样品和晶体位置的差异。膜厚监测仪的测量范围为0至999.9nm，并具有晶体寿命。
升级套件允许在两个琼脂涂层机之间共享一个控制单元。
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