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标准成像
真正的非接触模式AFM
接触模式AFM
侧向力显微镜(LFM)
相位成像
轻敲式AAFM
电性能
导电AFM
I-V谱线
扫描开尔文探针显微镜(SKPM/KPM)
高电压SKPM
扫描电容显微镜(SCM)
扫描电阻显微镜(SSRM)
扫描隧道显微镜 (STM)
扫描隧道光谱 (STS)
时间分辨的光电流测绘 (Tr-PCM)
磁性能
磁力显微镜 (MFM)
可调外加磁场MFM
化学性能
扫描电化学池显微镜(SECCM)
扫描电化学显微镜 (SECM)
电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)
功能化探针的化学力显微镜
热性能
扫描热感显微镜(SThM)
光学性能
探针增强拉曼光谱 (TERS)
时间分辨的光电流测绘 (Tr-PCM)
介电/压电性能
静电力显微镜 (EFM)
动态接触式静电力显微镜(DC-EFM)
压电力显微镜 (PFM)
高电压PFM
机械性能
Pinpoint纳米力学映射
力调制显微镜 (FMM)
纳米压痕
纳米刻蚀
高电压纳米刻蚀
纳米操纵
压电力显微镜 (PFM)
力测量
力-距离(F-D)光谱
力-体积成像
热噪声法标定弹性系数
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