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The ATRMax II 是一个高通量可变角度的水平ATR附件。
连续可变入射角 20 to 70 度
测量厚度：0.5 to 10 微米（与晶体材料, 入射角, 样品反射指数， 红外波长有关），适用于深度剖面研究 。
晶架面板可以配置ZnSe, KRS-5, Ge, AMTIR 和Si 晶体，可以选择不同的入射角，以测试样品不同深度的组分。
平板型和凹型样品平台适用于固体、薄膜、粉末和液体样品，可选变温装置。
基座准直针孔定位方式, 适用于Bruker, Varian, Shimadzu, Thermo, Jasco, Bomen, PE 等公司红外光谱仪。
