X衍射仪

X射线粉末衍射仪原理
    主要用途： 多晶衍射（粉末衍射）：定性分析、定量分析、晶粒大小、点阵参数、全谱结构优化拟合、宏观残余应力。薄膜分析等。右衍射仪可获得高强度的Kα1衍射谱，有利于分析低对称晶系。数据处理具有先进的峰分离功能、固溶体分析功能、积分强度法及峰高强度法的定量分析功能、点阵参数优化功能、分析结果的多样化打印结果输出和电子文件图谱结果输出。 　　　

   指标信息： 发生器最大功率：18kW(40kV-450mA) 左、右两台衍射仪。由两台计算机分别控制，可同时进行测量分析。两衍射仪：最小步距万分之一度。　定位速度1000度/分。　计数率线性范围：1000kCPS。　探测系统暗本底：<2CPS。　2θ角度准确度：千分之五度。 　　

  附件信息： 右衍射仪：带Ge弯晶前单色器，去除Dα2射线。具有5°及2.5°两套索拉狭缝。具有可变自动狭缝系统。左衍射仪：带自动换样器，带样品旋转功能。具有5°及2.5°两套索拉狭缝。具有可变自动狭缝系统。
     X射线粉末衍射仪目前,X射线粉末衍射技术(XRD)已发展成为最重要的材料分析测试技术之一[1,2],它具有操作简便、迅速、信息全面、样品用量少、对样品无损害、无污染、衍射强度准确等优点[3]。主要应用于无机物,可以测定晶体中晶粒的大小、晶胞形状或材料的织构等。XRD特别适用于晶态物质的物。