拉曼光谱和原子力显微镜联用
拉曼光谱和原子力显微镜联用

¥20万 - 30万

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NT-MDT

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Ntegra Spctra

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欧洲

核心参数

仪器种类: 显微共焦拉曼光谱

光谱范围: 450-1050 nm

光谱分辨率: 0.025 nm

空间分辨率: 300nm, 800nm

最低波数: 150cm-1

光谱重复性: 0.15cm-1

仪器简介:

NTEGRA Spectra 
是一款独特的集成了扫描探针显微镜、激光共聚焦/荧光显微镜和拉曼光谱仪的系统。其强大的TERS效应,可在得到拉曼光谱的同时获得高达50nm的成像分辨率。
只有NTEGRA Spectra能在软件、硬件等技术方面为集成Renishaw的拉曼光谱系统提供完美的方案,以便用户能在分子水平上用不同的技术手段来分析、研究样品。这样的集成,能让用户极大的提高工作效率,将更多的时间用于数据采集和分析,而无需为繁琐的仪器操作而苦恼。所以,可以负责任的说:真正的集成是远远优于简单的组合的。 

激光共聚焦显微镜/拉曼光谱仪系统 
NTEGRA Spectra 系统集成了激光扫描共焦光谱仪、光学显微镜和常规的扫描探针显微镜。该系统能用于发光光谱和拉曼散射的三维成像、所有的SPM功能,包括纳米压痕、纳米加工和纳米刻蚀等。.

扫描探针显微镜
除了光学检测外,NTEGRA Spectra还可使用SPM的方法来研究样品,诸如:AFM、MFM、STM、SNOM、力谱等等。这样独特的集成了光学方法和扫描探针方法合二为一的系统,为用户完成复杂的实验变成可能,用户可从实验中得到样品的光学分布信息、化学性质、力学性质、电学性质和磁学性质等。 

用超越激光衍射极限的系统来研究样品
NTEGRA Spectra 在检测样品时,能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。近场光学显微镜和TERS系统能让用户得到光学性质分布图(激光传输、散射和偏振等)的同时获得拉曼散射光谱和高达50nm的XY方向分辨率。



技术参数:

共聚焦显微镜
光学模块                  正置或倒置光学显微镜观测系统
                                  可见光谱测量 (390-800nm) 
                                  激发光路中配置手动式格兰-泰勒起偏棱镜 390-1000nm 
                                  检测光路中配置电动式格兰-泰勒检偏棱镜 390-1000nm  
                                  三轴定位电动式1/2波片 
                                  光束分离器
                                  可选配倏逝激发系统(用于TERS) 
光学分辨率              XY: 200nm 
                                  Z:500nm 
扫描模块                  最大样品质量:1000g
                                  最大扫描范围:100x100x25 um 
                                  XYZ三维全量程闭环控制扫描系统
                                  XY方向非线性度:0.03 % (典型值)
                                  Z方向噪音水平:<0.2 nm (典型值)
                                  XY方向噪音水平:<0.5 nm(典型值)
共聚焦针孔              直径0~1.5mm可调,步进0.5 um
注:无论样品是否透明,都可用我们的共聚焦显微镜在空气或液体环境中对其进行研究。

拉曼光谱仪 
光谱仪焦长               520 mm 
激光器波长*             441, 488, 514, 532, 633 nm 
杂散光抑制               10-5,(20nm 用632nm激光器 )
平场面积                   28 mm x 10 mm 
光谱分辨率               0.025 nm (1200 l/mm光栅**) 
端口                           1输入,2输出 
光栅座                       4孔转盘(3 个光栅+&ldquo;直接成像&rdquo;模式用的反射镜) 
探测器                       CCD:光谱响应范围:200&ndash;1000 nm,电冷装置冷却至&ndash;80&deg;C,500nm时95% 量子效率 
                                   用于光子计数的APD***:光谱相应范围:400&ndash;1000 nm,暗计数=25/秒,提供高达1GHz计算速度的PCI 卡。 * 标准配置中包括一套488 nm激光器,其他波长激光器可选配 
** 可选配其他光栅。小阶梯光栅具有最高的光谱分辨率 
***可选用PMT

扫描近场光学显微镜 
功能模式:剪切力成像/SNOM反射模式,透射模式,荧光模式(选配) 
激光模块                   耦合装置:X-Y-Z 定位器,定位精度1 um 
                                                       V型槽光纤固定器 
                                                       装配40x物镜 
                                                       光纤传输系统 KineFlexTM 
                                   光束衰减器:可配多种减光镜 
剪切力成像               样品尺寸:最大直径100mm,最大厚度15mm 
                                   XY二维样品移动平台:样品定位范围5x5mm,样品定位精度5um
                                   XYZ三维全量程闭环控制扫描系统
                                                      样品扫描式                            针尖扫描式 
                                   扫描范围 100x100x25 um                    100x100x7 um
                                   非线性度  XY 0.03 %(典型值)          <0.15% 
                                   噪音水平  Z <0.2 nm(典型值)          0.04nm(典型值),<=0.06nm 
                                   噪音水平   XY <0.5 nm(典型值)        0.2 nm(典型值),<=0.3 nm 
                                   石英音叉基频                              190 kHz 
                                   光纤孔径                                      <100nm 
可同时采集的数据通道 反射模式 
                                          透射模式/荧光模式 
PMT                            光谱响应范围:185-850 nm 
                                    灵敏度:3x1010,420 nm时 
隔振系统                    主动式:0.7-1000 Hz 
                                    被动式:大于1 kHz
 
扫描探针显微镜 
功能模式:AFM(接触+半接触+非接触)/侧向力模式/相位成像模式/力调制模式/粘滞力成像/磁力显微镜/静电力显微镜/扫描电容显微镜/扫描开尔文探针显微镜/扩展电阻成像模式/刻蚀:AFM(力和电流) 
样品尺寸*                   最大直径100mm,最大厚度15mm 
扫描范围                     50x50x5 um 
闭环控制系统**         XYZ三维全量程闭环控制扫描系统,采用电容传感器 
非线性度                     XY <0.15% 
噪音水平                     Z 0.06 nm(典型值),<=0.07nm 
噪音水平                     XY 0.1 nm(典型值),<=0.2 nm (XY 50 um) 
*扫描头部可单独使用,此时对样品尺寸和重量无限制 
**内置的电容传感器拥有极低的噪音水平,即使降到50x50 nm的区域也可以用闭环控制来扫描



主要特点:

AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中&mdash;在TERS中,这是必要的条件。在激光扫描和样品扫描的6个轴中,全部采用全量程闭环控制系统。
高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起,让系统的光学稳定性达到前所未有的高度&mdash;为长程和微弱的信号而设计。
反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。
电冷至-70&deg;C的CCD,用于光谱探测和成像。
也可选用APD来进行光子计数。
在激发通道和检测通道中,用户可灵活方便的配置偏光光路。
多功能的集成软件控制系统,所有的系统模块包括AFM、光路系统和机械系统都由统一的软件来控制。激光器、光栅、针孔等等,都可由软件来切换或调节。
NT-MDT可根据用户需求定制不同使用需求的TERS系统。


  • Gold surfaces were modified by benzyl-mercaptan (BM) and then partly replaced with benzenethiol (BT), which formed binary selfassembled monolayers (SAM). Initially BT randomly replaced BM in the monolayer, but at long exchange times415 nm radius domains were observed with specific relative composition of BT and BM.

    1457MB 2014-09-12
  • We measured tip-enhanced Raman scattering (TERS) and photoluminescence (PL) spectra of benzenethiol- modified gold nanoplates fixed on graphite, by using a gold tip for scanning tunneling microscopy (STM) measurements. With increasing bias voltage between the tip and the nanoplates, the Raman intensities of benzenethiol gradually decreased, while the PL intensities decreased first and then increased. This implied that relatively low bias voltages are suitable for STMTERS measurements. Both PL mapping and STM images of the nanoplates were simultaneously obtained. The PL mapping images showed that field enhancement by gap-mode plasmons between the tip and the nanoplates depended on their configuration.

    976MB 2014-09-12
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