美国View非接触影像测量仪
美国View非接触影像测量仪

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View MM

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核心参数

View Micro-Metrology全自动非接触影像测量仪(影像三次元)(ViewMM影像测量仪)是一家专业的光学非接触工艺过程控制测量设备供应商,隶属于全球最大的可视测量集团QVI旗下,拥有65年的光学设备制造经验,生产适合过程工艺控制测量应用的全自动高精度、高速度非接触影像测量仪。

基本参数:

型号分辨率测量范围(XYZ)mm平面精度(XY)μm空间精度μm最大承重KG
Pinnacle250:0.1μm250x150x100E2(XY) = 1.0+5L/1000E1(Z) = 1.5+5L/100025kg
Benchmark250:0.1μm300150x150E2(XY) = 1.8+5L/1000E1(Z) = 2.5+5L/100025kg
Benchmark450:0.1μm450x450x200E2(XY) = 2.5+5L/1000E1(Z) = 3.5+5L/100065kg
Summit450:0.1μm450x450x150E2(XY) = 2.0+6L/1000E1(Z) = 1.5+5L/100050kg

备注:L=测量长度,单位以毫米计(mm)

 

 

 

 

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