日本三丰表面粗糙度,轮廓测量装置SV-C3200

特点

·大幅提高的驱动速度（X1轴：80mm/s，Z2轴立柱：30mm/s)进一步减少了总的测量时间。

·为了长时间保持横往返直线度规格，三丰公司采用极坚硬的陶瓷导轨，既抗老化又经久耐磨。

·驱动器（X1轴）和立柱（Z2轴）均配备了高精度线形编码器（其中Z2轴上为ABS型）。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。

·在与CNC机型配套使用的众多外设选件的支持下，可实现自动测量。

·表面粗糙度测量，直线度：±（0.05+0.001L）μm

·符合JIS＇82/＇94/＇01,ISO,ANSI,DIN, VDA等表面粗糙度的国际标准。

轮廓测量技术参数

X1轴

       测量范围:      100mm或200mm

       分辨率:          0.05μm

       驱动速度:       0-80mm/s外加手动

       测量速度:       0.02-5mm/s

       移动方向 :      向前/向后

       直线度          0.8μm/100mm，2μm/200mm   以X1轴为水平方向上

      直线位移精度(20℃时) :  

  ±（1+0.01L）μm（SV-C3200S4,H4,W4）

±（0.8+0.01L）μm（SV-C4500S4,H4,W4）

±（1+0.02L）μm（SV-C3200S8,H8,W8）

±（0.8+0.02L）μm（SV-C4500S8,H8,W8）L为驱动长度（mm）

      倾角范围:      ±45°（带有×1轴倾斜单位）

Z2轴（立柱）

        垂直移动:      300mm或 500mm

        分辨率:        1μm

        驱动速度:     0-30mm/s外加手动

Z1轴（检出器）

        测量范围 :    ±30mm

        分辨率:         0.04μm（SV-C3200）

          0.02μm（SV-C4500）

         精度（20℃）:    ±（1.6+｜2H｜/100）μm（SV-C3200）

            ±（0.8+｜2H｜/100）μm（SV-C4500）

        测针上/下运作:     弧形移动

        测针方向:         向上/向下（SV-C3200）

        （上下可连续测量）（SV-C4500）

        测力:                30mN（SV-C3200）

         10，20，30，40，50 mN（SV-C4500）

        跟踪角度:         向上:77°,向下:83°

测针针尖                 尖端半径：25μm,硬质合金尖端

表面粗糙度测量技术参数

X1轴

      测量范围 :    100mm或200mm

      分辨率 :       0.05μm

      驱动速度 :     0-80mm/s外加手动

      移动方向;      向后

直线度:          （0.05+1L｜/1000）μm（S4, H4, W4型）

                              0.5μm/200mm（S8, H8, W8型）

垂直移动:          300mm或500mm

检出器

范围/分辨率:    800μm/0.01μm，80μm/0.001μm，8μm/0.0001μm

检测方法:         无轨/有轨测量

测力 :               0.75mN或4mN

测针针尖:         金刚石，90°/5μmR (60°/2μmR)